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滕枫/唐爱伟教授团队在国际顶级光学期刊《Light: Science & Applications》发表一项重要研究成果


       近日,国际顶级光学期刊《Light: Science & Applications》(Nature子刊,影响因子23.4)在线发表我校调教 发光与光信息技术教育部重点实验室重要创新成果—无损直接光刻技术实现图案化QLED显示。调教 为论文唯一完成单位,唐爱伟教授和满忠伟博士为该论文的共同通讯作者,我校硕士研究生陈仲为第一作者。该研究得到了北京市自然科学基金重点研究专题项目、国家重点研发计划课题和国家自然科学基金的支持。


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       胶体半导体量子点发光二极管(QLED)凭借其优异的光电性能和溶液加工特性,已成为显示领域的下一代有力竞争者。目前红绿蓝三色QLED器件的效率已接近理论极限,产业化进程加速。然而,VR/AR等新型显示应用对高分辨率量子点阵列提出了更高要求,现有图案化技术如喷墨打印、转移印刷和传统光刻等在分辨率、产量和材料兼容性方面存在局限,特别是传统光刻工艺容易损伤量子点纳米结构导致其光电性能下降。为此,开发高分辨直接光刻技术以保持QLED器件性能成为当前的研究热点。


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       为解决上述难题,滕枫/唐爱伟教授团队创新性设计了一种刚性桥联结构的光交联剂CPTA,成功实现了量子点材料在光刻工艺中的无损图案化。采用该技术制备的红光图案化QLED器件的峰值外量子效率(EQE)为21%,与未经图案化的原始器件性能相当。红绿蓝三基色量子点图案化的像素密度高达6350像素/英寸(PPI),最小线宽仅为1微米。这项技术突破了传统光刻技术造成量子点光电性能下降的瓶颈,为下一代高分辨率QLED显示技术的发展提供了关键技术支撑。


原文链接:

//www.nature.com/articles/s41377-025-01918-7